凤凰Microme | x Neo Nanome | x尼奥
凤凰Microme | x Neo Nanome | x Neo提供高分辨率的二维x射线技术,PlanarCT和三维计算机断层扫描(CT)扫描在一个系统中。
与创新工程加上超高定位精度,凤凰Microme | x Neo Nanome | x Neo是适合工业x射线电子检查过程中为更大的生产力和质量控制,故障分析你的产品安全和质量的增加,和研发创新在哪里出生。enableautomated x射线检查(AXI)的电子元件,如半导体、pcb、电子组件,传感器和锂离子电池——工业、汽车、航空和消费电子行业。
创新和独特的功能和一个extremeCT高定位精度使凤凰neo MicromeIx 160年和180年和180年NanomeIx neo有效和可靠的解决方案广泛的2 d和3 d离线检验任务:研发、失效分析、过程和质量控制。
凤凰X | | X射线法检验软件提供了易于程序基于CADµAXI确保自动化检验在微米数量级。另一个独特的好处是Waygate技术丰富的平板探测器的选择,从高度动态DXR 250 rt主动冷却大尺寸DXR S100 Pro和杰出的决议。总有一个完美的匹配图像连锁服务您的特定应用程序。
突出了
好处
- 出色的现场检查图像由于高动态Waygate DXR数字探测器阵列技术”
- 独特的高功率180 kV / 20 W微——或者nanofocus管甚至高吸收电子样本
- 最小化由于高效自动化CAD编程设置时间
- 覆盖生活的CAD和检验结果即使在旋转斜检验的观点
- 极高的缺陷覆盖率和可重复性
- 可选的闪光!电子图像处理技术优化数字射线照片自动和持续
- 可选的先进故障分析与高分辨率的三维微观——或者nanoCT PlanarCT®或大型董事会
- 全面和业界领先的辐射剂量控制技术来保护敏感设备
独特的功能
- 优越的像素的分辨率(85/100µm)新的探测器更称职的半导体和微电子组件检查
- 易用性:检验报告检验后自动生成
- 基于X |行动方案CADµAXI编程和自动检查
- 钻石|窗口数据采集快达2倍高图像质量水平
- 可选3 d CT扫描在10秒钟内阴影|目标防止敏感设备通过减少不必要的剂量辐射损伤
- 光学和x射线导航地图的快速定位和简单的编程
- 3种不同的检测器的选择取决于检验任务,例如DXR S100 Pro 2500 x3,000像素在100年μm优越的分辨率的像素大小
- 专有OVHM技术使同步运动和人体工程学的建立为简单视图配置
- 闪光!电子、Waygate技术的最好的图像处理专门优化的电子检查
- 阴影|目标结合剂量|管理器,以防止辐射敏感设备的辐射损伤智能管理和动态剂量监测
应用程序
- 电池检查
- 装配质量BGA、线扫描、甲状旁腺素,或QFN / QFP
- 其他组件,如IGBT或SMD
- 装配质量
- SMT
- 传感器
- 控制模块
Waygate技术´独家才华横溢的DXR-HD探测器舰队:
- 最新的大型DXR S100 Pro探测器——卓越的像素的分辨率定义行业领先的成像技术
- 优越的嗯100像素的分辨率结合优秀的检测能力和效率高
- 300 mm x 250 mm大有效面积大大扩展了视野和重新定义检验效率
- 独家高动态DXR250RT探测器——增强闪烁体技术引入了一个新的行业标准高效的现场检查:
- 30 fps完整的决议提供低噪声加上出色的图像质量保证快速和详细的现场检查
- 活跃的温度稳定为精确和可靠的检验结果
- 极快在3 d CT数据采集模式
相比传统的铍的目标,钻石|窗口允许更高的力量在一个较小的焦点。这样可以确保高分辨率甚至在高输出。
- 到CT数据采集快2倍在同一高图像质量水平
- 高产量和高分辨率
- 无毒的目标
- 改善焦斑位置在长期稳定测量
- 增加目标一生由于更少的退化与更高的功率密度
先进的检验和3 d分析小样本,凤凰城| x射线的专有的3 d CT技术是可选的。
- 180千伏/ 20 W高功率x射线技术,快速图像acquisition DXR探测器和钻石|窗口结合凤凰| x射线的快速重建软件交付高质量的检验结果
- 最大的立体像素分辨率下降到2微米;的nanoCT®能力的Nanome | x允许更高的图像清晰度
- CT旋转的机械精度高分辨率CT应用程序单元进行了优化
高分辨率μAXI缺陷覆盖率极高
作为解决方案为μAXI极高的缺陷的报道,凤凰| X射线提供高精度系统MicromeIx Neo和NanomeIx Neo包括独特的X |法案软件包快速和简单的离线CAD编程。
其直观的新的GUI改善突出的精度和可重复性,小意见决议只有几微米,360°旋转,斜看70°确保会议质量标准——即使是最高的检查组件的球场只有100微米。
除了自动检查,X |确保一个行动容易垫识别生活的CAD数据覆盖功能甚至在手动检查闪光!™图像优化确保高缺陷覆盖率。
X |行为不仅提供了最小设置时间相比,基于传统观点AXI -一旦程序,检查程序移植到所有X |兼容系统。结果是快速和简单的编程:指定的检验策略,让X |法生成自动化的检验程序
- 容易pad-based离线编程
- 具体检验策略不同的垫类型
- 完全自动化检验程序生成
- 非常高的定位精度甚至在斜查看和旋转
- 容易垫识别手册x射线检查
- 高重现性大的多氯联苯
平面| CT片或多层的看法允许一个飞机的准确检验结果或整个包。
- 简单的2 d切片或3 d体积评价大型复杂的董事会
- 没有板切割,没有覆盖的结构在x射线图像
- 新设计的工作流程,减少扫描准备和人类不损失图像质量的。
- 用户友好,更少的产品知识需要完成一个平面CT检查
- 出色的现场检查图片高动态Waygate DXR数字探测器阵列技术
- 监控和大27”超高缺陷coverage和可重复性
- 细节在0.5µm或0.2µm检测能力与nanofocus
- 即使生活叠加的CAD和检验结果在旋转斜检验的观点
- 高功率180 kV / 20 W微焦点或nanofocus管高吸收电子样本
清晰的概述和快速定位:
- 光学相机图像或x射线概述图像整体样本作为导航地图
- 快速操作通过单击地图
- 检查程序可以设置基于光学导航地图
- 位置在地图上可以保存到测试报告吗由X |行动
Waygate´专有技术阴影|目标在x射线管使减少不必要的辐射剂量高达60%的传统x光管相比,在一个典型的检查。结合全新的低剂量的捆绑在一起剂量|经理工具,它允许实时剂量监测和控制
这个解决方案保护辐射敏感检查组件老化坏的情况下的损失。
- 阴影|目标防止发电机频繁启动和停止,以减少不必要的辐射
- 快速和稳定的x射线恢复。没有延迟的能量运行
- 实时的可视化预测剂量通过“剂量地图”与导航地图覆盖
- 累积剂量计算每个检查
- 多档位剂量测量集成到检验程序
在剂量|经理工具,彩虹颜色可视化实时投影射线剂量
左图:剂量没有地图阴影|目标。正确的图片:剂量地图阴影|目标。
- 减少安装时间由于高效自动化CAD编程
- 专为可移植性和紧凑,先进的电子年代
- 直观的GUI界面完全自动化的检测项目的一代
- 可选的闪光!™图像优化技术
- 可选先进的失效分析与高分辨率的三维微观——或者nanoCT®或大型董事会PlanarCT
- 可选的3 d CT扫描到10秒
Microme | xNeo提供一个160千伏微管或者一个180千伏微管而Nanome | xNeo配有180千伏纳米管。钻石窗口安装作为标准。
在0.5µm(详细的检测能力Microme | xNeo)或0.2µm (Nanome | xNeo)。
20 w功率目标对所有管舰队有助于检测分辨率和高吞吐量。
Microme | x新和Nanome | x新报价各种探测器具有独特的特性,满足您的特定应用程序,
- 75嗯分辨率DXR S85检测器的最佳性价比小部件和PCB / PCBA检验
- 200年µm分辨率DXR 250 rt主动冷却的极高的动态范围和出色的图像质量保证快速和详细的现场检查
- 100µm分辨率大尺寸DXR S100 Pro探测器提供优秀的检测能力和生产力,完全合适的半导体和大样本检验
的Max。检查我们的系统的领域是460 mm x 360 mm (18“x 14”与一个旋转表),610 mm x 510 mm (24“x 20”)和一个可选的x - y表(non-rotatable)
Max。样本尺寸/重量是680 mm x 635 mm(27 * 25) / 10公斤(22磅)。。
凤凰| x射线的专有的3 d CT技术选择上可用Microme | x Neo Nanome | xNeo先进的检查和小样本的三维分析。Max。几何放大率可以是100 x (CT)和马克斯。立体像素分辨率2嗯,分辨率取决于样本大小。
你只不过需要一个点击!
25 +多年的经验和专利结合下一代技术,Waygate技术的聪明的Flash ! TM软件自动优化你的数字射线照片快速、一致。平衡的不同密度和材料可以让你看到所有的微妙的细节在一个单一的形象,没有手动调整。
现在最新版本专门优化了电子、闪光!电子产品,可用!
内存和电阻等辐射敏感的电子会受到一定的剂量。因此,t他辐射剂量需要严格监控和管理减少质量成本尽可能(检验)。Waygate技术的低剂量管理包是一个全面的解决方案相结合阴影|目标和剂量|经理使剂量控制从源端和受体。
剂量控制与检验程序和安装各种应用程序集成。
